原华为测试经理、测试技术专家 陈博士 主讲
时间地点：2009年8月22日（深圳） 2009年8月23日（广州）
培训费用：1600元/人（包含7小时的培训、培训教材、午餐、茶点、证书等）。
学员对象：电子信息企业系统工程师、研发部经理、测试部经理、制造技术部经理、新产品导入(NPI)经理，及研发工程师等
■ 课程背景
◇测试是产品从研发走向生产的必经阶段,也是决定产品质量的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多电子通信企业所追求的目标。
◇建立可测试性设计是开发软硬件系统的关键，尤其是那些对工作可靠性要求高的系统。
◇若没有可测试性设计，在产品正式使用之前就很难发现设计缺陷，而且工作中出现的故障也很难检测和诊断。
◇采用可测试性设计可以增加系统的可测试性，提高产品质量，并减少产品投放市场的时间及测试费用。
■ 课程收益
本课程介绍了业界先进的可测性设计的方法和实践经验，结合业界知名公司的成功实践经验和案例，采用模板演示讲解和案例讨论的方式，具体讲述了可测性设计的方法和具体实践经验、操作技巧以及IT工具，着重于提高学员的产品测试实践技能，注重课程的实操性，能有效地借鉴和快速地应用到实际工作中去。
学完本课程后，学员可获得：
·深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理
·熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程
·全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法
·有效构建可测性设计(DFT)的体系平台和货架技术
■ 讲师介绍：陈博士（工学硕士，产品工程及测试工程资深讲师）
曾任职华为公司、Adtran、 Xalted（China）等知名企业，7年以上大型企业研发及生产测试设计实践经验；先后担任过硬件开发工程师、测试工程师、测试部经理等职位，主持建立华为公司DFT可测性技术研究平台，擅长DFT、ATE等测试设计平台的建立与应用，在可测性设计、自动化测试设备开发及生产测试策略研究等测试领域有深入研究与实践应用经验。
■ 课程内容
1、可测性设计(DFT)概述
产品生命周期V模型
电子信息产品测试所面临的问题
什么是可测性设计(DFT)
※思考：如何深刻理解可测性设计(DFT)
可测性的物理特征表述
可测性的测度形式
※讨论：以下各功能模块的可测性测度是怎样的？
可测性设计(DFT)的效益分析
可测性设计(DFT)基本要素
IPD模式下的DFT体系结构
可测性设计(DFT)基本过程
可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语
2、可测性设计(DFT)需求
整机研发测试的可测性(DFT)需求来源
整机研发测试的可测性(DFT)需求
单板软件研发测试的可测性(DFT)需求来源
单板软件研发测试的可测性(DFT)需求
单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求来源
单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求
单板生产测试的可测性(DFT)需求来源
单板生产测试的抽象模型
※思考：单板生产测试的目的是什么？
单板生产测试路线
单板生产工艺测试基本原理
单板生产功能测试基本原理
单板生产测试的可测性(DFT)需求
※讨论：本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的？
JTAG在生产测试中的应用
JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求
单板维修可测性设计(DFT)需求
※思考：本公司生产维修有哪些诊断手段？
3、可测性设计(DFT)基本方法
输入输出通道设计——测试控制物理通道
输入输出通道设计——外部测试命令集
输入输出通道设计——测试控制管理
输入输出通道设计——测试信息存储与输出
输入输出通道设计——外部仪器输入输出接口
内置数据源设计——业务数据源自动生成
内置数据源设计——差错数据源自动生成
内置数据源设计——容限/极限数据源自动生成
内置数据源设计——故障数据源自动生成
能控性设计——测试数据源的设置与启动
能观性设计——系统配置状态监控
能观性设计——系统业务状态监控
能观性设计——单板运行状态监控
能观性设计——系统资源状态监控
能观性设计——系统其它状态监控
BIST设计——通道分层环回
BIST设计——故障诊断
BIST设计——初始化自检
·案例解读
4、单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素
机械结构设计
自检和自环设计
工装夹具设计
测试点设计
芯片控制引脚设计
边界扫描测试设计
EPLD/CPLD/FPGA设计
如何设计以减少测试点
5、可测性设计(DFT)工程实施
可测性设计(DFT)工程实施步骤
可测性设计(DFT)工程实施障碍
※交流与探讨：如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术 |
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