课程介绍：
对研发人员和经营者来说，面对新产品，有两大技术难题：
1） 在设计经验不足的情况下，如何提前把产品隐患进行预防性设计，使之不会发生问题；
2） 设计出产品来之后，用什么样的测试手段，测哪些具体的参数、指标、特性，在投产之前就能预先发现潜在隐患。
结合这两个痛点，设计了《电子产品可靠性问题预防性设计》和《电子产品潜在隐患预测试用例设计》两个姊妹篇课程。

潜在隐患预测试用例设计分成六步：
1) 找到应测点，
2) 确定应测点的潜在隐患，
3) 分析能激发潜在隐患的敏感应力和机理
4) 设计测试方案（仪器、测试环境、测试方法、合格判据）
5) 测试实施，并记录数据
6) 测试结果分析和整改
本课程内容包括：系统分解找测试点、失效机理分析找到潜在隐患和敏感应力、设计测试方案的注意事项、测试管理注意事项、测试数据函数型结果和统计型结果分析。

培训对象：适用于测试工程师、系统工程师、项目经理、技术部经理、研发高管等。
通过本课程，可以厘清测试方案设计思路，掌握未知问题分析方法论，掌握隐患激励方法和相关知识经验，避免测试实施过程错误，掌握测试结果数据分析方法。足不出户，做电子产品预判，成为事前诸葛亮。

讲师介绍：
武晔卿：专注于电子可靠性设计与测试方法研究逾26年，曾任职于航天、医疗电子等行业，从事电子可靠性技术咨询顾问的15年时间里，为几百家各类研发机构提供相关技术服务，客户群体包括了外资（如GE研发、ABB、Motorola、Siemens），军工（如科工四院、科技一院、八院、中电、兵器等），民品（如海信、美的、海尔、东风汽车、理想汽车、和利时、中车等）。出版《嵌入式系统可靠性设计及案例解析》（北航出版社）《电路设计工程计算基础》（电子出版社）。
在器件特性、失效分析、可靠性工程、设计与测试技术、可靠性评估、工程技术方法论等有资深的积累、独到的见解和实用的know-how操作方法。

课程大纲：
1) 解决测试项不全问题的分析方法
全覆盖测试用例设计、MECE方法、白盒测试
2) 偶发故障不能故障复现问题的机理和测试方法
60分原理、大意外事件激发、同步性测试和相关性测试、统计数据分析
3) 批量产品小概率数量发生故障如何设计测试用例排查
工程计算、波形诊断白盒测试
4) 长时间运行才会出现的问题如何排查
规范审查、加速寿命试验设计
5) 面对陌生新产品，找寻应测试点的分析方法
系统活动分解、单一故障分析测试
6) 能激发高发问题的测试项目有哪些
时序与潜通路分析测试、针对失效机理的应力测试、组合应力测试、应力变化率测试
7) 高成本测试方法如何降低测试费用
电子仿真
8) 高温振动等应力针对点的目标被测对象是什么
9) 怎么找到和确定测试标准
10) 测试合格判据如何确定
11) 测试方法带来的潜在风险
阻抗匹配、串扰、仪器特性
12) 测试数据结果分析方法
波形诊断、数据统计分析、功能验证、精度验证
13) 测试常见故障机理原因分析
14) 集成IC和模块测试方法
参数选择、统计数据分析、端口特性测试、封装性能验证检查与测试、热测试与热计算
15) 物料选型与替换的认证审核测试方法
16) 软件测试用例设计方法
路径覆盖测试、数据覆盖测试、全覆盖测试用例设计
17) 器件失效分析测试方法
18) 用户模拟测试
用户环境模拟测试、人机接口测试、设备互联测试
19) 电磁兼容可视化摸底测试

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